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定华雷达仪表学堂：雷达液位计的影响因素与适用场合有哪些？
2025-01-14
雷达物位计的精度在实际应用中与理论环境下略有差异。主要原因是罐体及其内部的障碍物对微波的干扰决定了所能得到的精度。主要因素有:(1)仪表内部及天线连接处的阻抗跃变;(2)罐内的障碍物的干扰反射;(3)由罐壁、罐顶、及罐底引起的多次反射;(4)液位表面的波纹造成的反射干扰。此外，液...
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毫米波雷达物位计的技术演变与行业应用
在现代工业领域，精确测量各种物料的液位和物位是至关重要的环节。而毫米波雷达物位计以其的性能和精准的测量能力，成为了众多行业的工具。毫米波雷达物位计是一种利用毫米波频段的电磁波进行物位测量的先进设备。它通过发射高频毫米波信号，并接收从物料表面反射回来的信号，根据信号的传播时间和强度来计算物料的高度或液位。与传统的物位测量方法相比，毫米波雷达物位计具有许多显著的优势。首先，毫米波雷达物位计具有高精度的测量能力。它能够在复杂的工业环境中准确地测量各种物料的物位，无论是固体、液体还是...
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80GHz雷达物位计：小尺寸，大能量——推动工业自动化升级
通过采用80GHz雷达物位计，工业企业不仅能够提高生产效率，降低运营成本，还能更好地适应不断变化的市场需求。可以说，在这个时代，它正以其“小尺寸，大能量”的特点，助力各行各业迈向更高层次的发展。小巧设计，强大功能传统的物位测量技术如超声波、导波雷达等虽然在某些场合下可以满足需求，但在一些特殊环境下，例如高温、高压或高粘度介质的情况下，其准确性和稳定性往往受到限制。相比之下，80GHz雷达物位计由于其紧凑的设计以及高频率特性，能够在更加复杂的环境中保持良好的性能。这种小型化的设...
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智能化液位监测：高频雷达液位计与物联网的结合
在工业自动化的浪潮中，高频雷达液位计成为液位监测领域的一颗璀璨明珠。本文旨在探索高频雷达液位计的核心技术、优势以及在各行业中的创新应用，揭示其如何重塑传统监测方式，提升生产效率与安全保障。高频雷达液位计主要运用了频率调制连续波(FMCW)技术，通过发送特定频段的微波脉冲，并持续调整频率，形成线性的频率扫描。当这些微波遇到液体表面时，部分能量会被反射回来。由于微波的传播速度是恒定的，通过比较发射和接收信号之间的频率差异，即可精确计算出从天线到液面的距离，进而得出液位高度。这种技...
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仪表使用与维护中16点注意事项
1、禁止将信号电缆和供电电缆混用于一根多心电缆中！2、在维修仪表拆线工作时，必须要注意把线头包好包牢，防止短路以致酿成事故！3、连接电缆不应该有中间接头存在。4、点的屏蔽接地，一般在控制室侧屏蔽接地。5、防护软管一定要低于仪表进线口防止仪表进水。6、漏天仪表应该增设仪表保护箱或用尼龙塑料袋包裹。7、电缆在槽架中敷设时，本安电缆、电源电缆、信号电缆段要用隔板分开。8、在接线操作时，补偿导线不能够使用接线鼻子（片），避免两种不同导体接触，导致测量结果误差。9、控制室一定要做好防止...
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定华雷达仪表学堂：雷达物位计在测量过程中出现几种干扰源
雷达物位计在各行各业的测量系统中使用相当频繁，在其使用过程中会受到很多因素的影响，可能会影响测量精度。西安定华电子的技术人员，就雷达物位计的干扰问题，结合多年的生产、检测的实际经验，向广大用户介绍一下雷达物位计在测量过程中产生干扰的具体因素都有哪些。一、雷达物位计在测量过程中，常见的干扰可分为两种：直流和交流干扰。1、直流干扰在雷达物位计测量回路中，出现附加直流流电压时，即为直流干扰。严重时，将使测量仪表不能正常工作。直流干扰的来源有以下几种：(1)附加热电势。(2)化学电势...
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高频雷达物位计是一种用于测量物料位置的仪器
高频雷达物位计用于测量物料位置，基于时间行程原理工作。它通过发射高频电磁波(通常是微波)，这些电磁波在遇到被测介质表面时反射回来，被接收器捕获。通过计算电磁波往返的时间差(即飞行时间)，结合电磁波的传播速度(在真空中接近光速)，可以准确计算出物位的高度或距离。高频雷达物位计采用高频电磁波探头，通过电磁波在空气和介质间的反射作用，测量物料液位或固体物料的高度。它具有测量范围广、测量精度高、安装方便等优点。而且由于其不需要直接接触被测介质，测试过程更安全、更方便。高频雷达物...
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定华雷达仪表学堂：雷达液位计测量液位不准怎么办?这几大措施可以提高!
在石油、化工、纺织、食品、制药、造纸、环保都能看到雷达液位计，它的功能是测量准确、安装方便、使用寿命长、现场显示液位，但说到液位的问题，雷达液位计液位不准，会直接影响雷达液位计的精度，那该如何提高雷达液位计的精度呢?1.测量时雷达液位计出现盲区在仪器测量的过程中会存在两个盲区，分别是上盲区和下盲区，当被测液体过多或过少，快要或者已经到达上下盲区，这是会导致测量出现异常。2.介电常数雷达液位计测量时，介电常数也会对于测量的精准度产生影响，这就需要在选型时要根据被测介质的介电常数...
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